金属学及金属工艺论文_X射线荧光光谱测定银铜
2022/01/11文章目录
前言
1 实验部分
1.1 主要仪器
1.2 分析线条件选择
1.3 实际样品测量
2 结果与讨论
2.1 两种标准校准曲线的原理
2.1.1直接校正法
2.1.2二元比例法
2.2 用于工作曲线样品的制备
2.3 工作曲线的选择
2.3.1直接校正法制作Ag元素含量的工作曲线
2.3.2直接校正法制作Cu元素含量的工作曲线
2.3.3二元比例法制作工作曲线。
2.4 精密度
2.5 结果对照
3 结论
文章摘要:本文建立了X射线荧光光谱测定银铜合金中的银,选择不同的标准校准曲线:直接校正法和二元比例法,比较了两种实验结果。实验表明二元比例法优于直接校正法,方法稳定性好、抗干扰能力强、相对标准偏差(RSD)小于0.31%,检测结果与原子吸收光谱法(AAS)一致。
文章关键词:
论文DOI:10.19574/j.cnki.issn1672-7665.2022.01.011
论文分类号:TG115.33
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